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供应荧光镀层测厚仪-详细情况
| 价格描述： | ￥2600 元/台 | 最小起订： | 1台 | 供货数量： | 100台 |
| 发货期限： | 电议 | 发布日期： | 2024-04-03 | 有效期限： | 2024-04-04 |
| 所在地区： | 浙江温州 | 物流费用： | 卖家承担运费 | 产品标签： |
- 本产品由浙江一诺机电有限公司提供，如需了解产品详情，请给我们致电。
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详细说明
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
无损分析：无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
操作简单，只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本.
一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。
新型号设计
快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
